contrôle radiographique par rayons X [ contrôle radiographique aux rayons X | contrôle par rayons X | inspection radiographique par rayons X | inspection radiographique | contrôle radiographique ]

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X-ray inspection

Contrôle destructif et non destructif (Matér.) | Soudage (Métal)

Destructive and Non-destructive Tests (Mat.) | Welding and Soldering (Metals)

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appareil à rayons X pour le contrôle radioscopique des bagages [ appareil d'inspection des bagages aux rayons X | appareil à rayons X pour le contrôle des bagages ]

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baggage X-ray machine [ baggage X-ray unit | luggage-ray unit ]

Sécurité (Transport aérien)

Air Safety

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diffusion des rayons X aux grands angles

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wide-angle X-ray diffraction

métallurgie > métallographie

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lithographie à rayon direct

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direct-beam lithography

IATE - Information technology and data processing

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IN-CONTEXT TRANSLATIONS

Elle est également en concurrence avec d'autres techniques (telles que le rayon X et la lithographie par faisceau électronique), qui ont également fait l'objet de nombreuses études aux États-Unis.

http://europa.eu/rapid/press-r (...) (...) [HTML] [2001-07-17]

It also competes with other technologies (like X-ray and electron beam lithography), that have also been intensely studied in the USA.

http://europa.eu/rapid/press-r (...) (...) [HTML] [2001-07-17]

http://europa.eu/rapid/press-r (...) [HTML] [2001-07-17]

Étant donné que la taille des semi-conducteurs ne cesse de diminuer, il est largement admis que dans 10 à 11 ans, la longueur d'onde de la lumière qui sera nécessaire à la lithographie ira au-delà du spectre ultraviolet, atteignant l'extrême ultraviolet (EUV) ou la zone des rayons X mous.

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With the constant diminution in the semiconductor structure size, it is well established that within 10-11 years, the wave length of the light required in the lithography process will go past the ultra-violet spectrum into the Extreme-Ultra-Violet (EUV) or soft X-ray zone.

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Lithographie des microcircuits aux rayons X

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