If successful it will provide a new analytical technique for transmission electron microscopy, allowing accurate measurement of magnetic properties below the surface and in multilayer materials at nanometer resolutions.
Si la méthode s'avère concluante, elle fournira une nouvelle technique d'analyse en microscopie électronique à transmission, permettant une mesure précise des propriétés magnétiques sous la surface et dans les couches multiples d'un matériau à des résolutions nanométriques.
